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流量計安裝應(yīng)避免的環(huán)境
流量計安裝應(yīng)避免的環(huán)境 流量儀表是現(xiàn)在工業(yè)上必不可少的一款儀表，但是流量計的種類繁多，用途用法也不同，所以在正確選擇流量計的同時也要注意流量計的安裝環(huán)境。流量計的測量結(jié)果會受到安裝環(huán)境的影響，那么在安裝流量計的時候需要避免哪些不適合的環(huán)境呢？1) 高溫環(huán)境中，暖氣等熱源附近，以及日光直射，濕度過高，雨淋或者有水的地方。2)振動。在壓縮機、定排量泵、振蕩伐門后，不能安裝渦街、漩進、科氏等流
發(fā)布時間：2014-12-12 08:44
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電火花防腐層檢漏儀原理
電火花防腐層檢漏儀原理 電火花防腐層檢漏儀,電火花檢測儀，又稱電火花檢漏儀。該儀器主要用來檢測金屬基材上的厚的非導(dǎo)電防腐層是否存在針孔，砂眼等缺陷的儀器。電火花檢漏儀用于檢測金屬基體上絕緣層的極小缺陷，如搪玻璃涂層，玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里的針孔、氣泡和裂紋，廣泛用于化工、石油、橡膠、搪瓷行業(yè)，該產(chǎn)品是您用來檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的必備工具。電火花防腐層檢漏儀檢測原理 金屬表面防腐絕緣
發(fā)布時間：2014-12-12 08:43
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實驗電爐爐襯修補方法
實驗電爐爐襯修補方法 當(dāng)實驗電爐爐襯遍地有若干的毀傷時，必需進行修補，以延伸爐襯壽命和避免因為爐襯毀傷而形成變亂實驗電爐爐襯的修補部位及辦法如下: 1、出鐵口耐火資料與爐壁接縫處開裂或毀傷的修補 可用不定形耐火資料推打修補，修補局限較大時要用柴炭等烘干；
發(fā)布時間：2014-12-11 08:41
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怎樣確認(rèn)熱電偶是好是壞
怎樣確認(rèn)熱電偶是好是壞 首先確定熱電偶的外觀有沒有問題，是好是壞，得通過檢測才能確定。 將待測熱電偶穿上熱電偶專用的瓷套管，和標(biāo)準(zhǔn)鉑銠熱電偶一起放入管式電爐中，將熱端插入管式電爐中的一個多孔的均熱用的金屬鎳制成的圓柱體中。將各自的補償導(dǎo)線的冷端放入由冰水混合物保持的零攝氏度的容器中。
發(fā)布時間：2014-12-11 08:40
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低溫試驗箱的樣品擺放要求
低溫試驗箱的樣品擺放要求 在低溫試驗中，產(chǎn)品安裝應(yīng)保證有良好的空氣循環(huán)，除支點外，受試產(chǎn)品應(yīng)被自由空氣包圍。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中明確提出低溫試驗中，受試產(chǎn)品之間、受試產(chǎn)品與試驗箱箱壁之間至少應(yīng)有15cm的距離。在我國溫度試驗箱檢定中，測量點與箱壁之間的距離為試驗箱內(nèi)壁對邊的1/10，以1立方米正方體試驗箱為例，對邊長的1/10約為15cm，這個區(qū)域即低溫試驗箱的工作空間。 除此之外，GJB150實施指
發(fā)布時間：2014-12-10 08:41
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擺管淋雨試驗裝置運行時應(yīng)注意哪些細(xì)節(jié)呢?
擺管淋雨試驗裝置運行時應(yīng)注意哪些細(xì)節(jié)呢? 擺管淋雨試驗裝置能夠提供逼真的模擬電子產(chǎn)品及其元器件在運輸和使用期間可能受到的淋水和噴淋試驗等各種環(huán)境。以達(dá)到檢測各種產(chǎn)品的防水性能產(chǎn)品。擺管淋雨試驗裝置運行時應(yīng)注意哪些細(xì)節(jié)呢?今天就為大家講述擺管淋雨試驗裝置使用時應(yīng)注意的操作誤區(qū)，有興趣的朋友可以了解一下。 1、運行過程中不要打電氣控制箱。 2、放置在試樣平面不能大于設(shè)備擺管半徑，否則易造成擺管
發(fā)布時間：2014-12-10 08:40
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防止和減少鹽霧腐蝕的措施有哪些
防止和減少鹽霧腐蝕的措施有哪些 鹽霧對產(chǎn)品的嚴(yán)重影響，很早就引起人們的注意，并采取措施來防止和減少鹽霧的有害利用。措施包括兩方面： 1、采取設(shè)計和工藝措施來增強產(chǎn)品抗鹽霧能力或減弱鹽霧腐蝕作用。這一措施包括密封結(jié)構(gòu)設(shè)計和選用耐腐蝕材料，使用涂層和表面處理防止鹽對基體金屬腐蝕及使用緩蝕劑和鈍化劑抑制鹽霧腐蝕等方法。 2、研制和生產(chǎn)中充分利用鹽霧試驗箱做鹽霧試驗保證設(shè)計和生產(chǎn)的產(chǎn)品符合耐鹽環(huán)境
發(fā)布時間：2014-12-10 08:38
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高低溫低氣壓試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
高低溫低氣壓試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn) 高低溫低氣壓試驗箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下： GJB150.2A-2009**裝備實驗室環(huán)境試驗方法第2部分：低氣壓（高度）試驗 GB/T10590-2006高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB/T10591-2006高溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB/T11159-2010低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低
發(fā)布時間：2014-12-09 08:38
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